产品中心您现在的位置:首页 > 产品展示 > > > QBZW-B紫外线耐候试验箱

紫外线耐候试验箱

更新时间:2024-03-28
  • 访问次数:524
  • 产品描述:

    紫外线老化箱利用荧光紫外线灯模拟阳光照射之效果,被测试材料放置于一定温度下的光照中进行测试。用数天或数周的时间即可重现户外数月或数年出现的耐候效果。*的免维护结构设计,使用更方便,更节能!

    紫外线老化箱利用荧光紫外线灯模拟阳光照射之效果,被测试材料放置于一定温度下的光照中进行测试。用数天或数周的时间即可重现户外数月或数年出现的耐候效果。*的免维护结构设计,使用更方便,更节能!
    主要技术参数:

    *适用三星手机外壳紫外光老化测试,采用日本SANKYO生产的UV/B313灯管

    箱体材料:全不锈钢制作

    工作室尺寸:W 400×D320×H350 (mm)

    外型尺寸:680×350×435(mm)

    使用光源:15WUV-B紫外线二支(日本SANKYO)

    温度范围:RT~60℃

    控温方式:PID

    波长峰值: 340nm

    灯管间中心距离:150mm

     

    样品架:可升降,即灯管与样品间距离可调

     

    功能选择:含连续和循环选择,选择循环功能时光照和黑暗时间可调

     

    定时装置:蕞大定时9999H;带停电保持功能,来电后继续工作。

    留言框

    • 产品:

    • 您的单位:

    • 您的姓名:

    • 联系电话:

    • 常用邮箱:

    • 省份:

    • 详细地址:

    • 补充说明:

    • 验证码:

      请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
    上海庆博试验设备有限公司

    上海庆博试验设备有限公司

    地址:上海市青浦区朱家角路442号

    版权所有:上海庆博试验设备有限公司  备案号:沪ICP备19001038号-4  总访问量:120793  站点地图  技术支持:化工仪器网  管理登陆